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首页 > 供应产品 > IPSiEDX-150μWT X射线测厚仪
IPSiEDX-150μWT X射线测厚仪
浏览: 787
材质: 45#钢
产地: 韩国
单价: 面议
最小起订量: 1 个
供货总量: 1000000000 个
发货期限: 自买家付款之日起 10 天内发货
有效期至: 长期有效
最后更新: 2021-06-04 20:07
 
详细信息
材质 45#钢
产地 韩国
分析时间 15s
类型 射线检测仪器
适用范围 冶金
执行质量标准 韩标
结构型式 台式
品牌 IPS
型号 iEDX-150μWT
加工定制

(一)iEDX-150μWT X射线测厚仪产品优势


1. 镀层检测,多镀层检测可达5层,精度及稳定性高(见以下产品特征详述)。

2. 多导毛细管配置,光斑尺寸50um

3. 平台尺寸:620*525mm,样品移动距离可达250*250mm。

4. 激光定位。

  • 可检测软硬板电镀层厚度。
  • 运行及维护成本低、无易损易耗品,对使用环境相对要求低。
  • 可进行未知标样扫描、无标样定性,半定量分析。
  • 操作简单、易学易懂、准确无损、高品质、高性能、高稳定性,快速出检测结果。
  • 可针对客户个性化要求量身定做辅助分析配置硬件。
  • 软件免费升级。
  • 无损检测,一次性购买标样可长期使用。
  • 使用安心无忧,售后服务响应时间24H以内,提供全方位保姆式服务。
  • 可以远程操作,解决客户使用中的后顾之忧。

    (二)iEDX-150μWT X射线测厚仪产品特征

    • 高性能高精度X荧光光谱仪(XRF)
    • 计算机 / MCA(多通道分析仪)

      2048通道逐次近似计算法ADC(模拟数字转换器)。

      • Multi Ray. 运用基本参数(FP)软件,通过简单的三步进行无标样标定,使用基础参数计算方法,对样品进行准确的镀层厚度分析。
      • MTFFP (多层薄膜基本参数法) 模块进行镀层厚度分析

        多镀层厚度同时测量

         4.1 单性金属镀层厚度测量。

         4.2 合金镀层厚度测量。

         4.3 双镀层厚度测量。

         4.4 双镀层(其中一层是合金)厚度测量。

         4.5 三镀层厚度测量。

         4.6 测量点大小:50um。

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